一种测量法拉第效应和磁光调制的综合实验装置 | |
陈希江; 时晨 | |
2014-11-05 | |
著作权人 | 上海复旦天欣科教仪器有限公司 |
专利号 | CN203931304U |
国家 | 中国 |
文献子类 | 实用新型 |
其他题名 | 一种测量法拉第效应和磁光调制的综合实验装置 |
英文摘要 | 本实用新型属于教学实验仪器技术领域,具体为一种测量法拉第效应和磁光调制的综合实验装置。本实用新型包括半导体激光器、起偏器、会聚透镜、电磁铁、调制器、检偏测角器、探测器、电磁铁直流电源、信号源主机以及示波器。本装置通过正弦波调制和方波调制两种方式,并选用选频放大器进行探测信号处理,可以准确的确定倍频调制点,从而准确测量实验样品的菲尔德常数;电磁铁装置采用磁极中心打孔并且磁头间隙可调的方式,对不同样品可以采用不同的磁场间隙,同时可以激光从磁极中心穿过,方便测量法拉第效应;检偏测角器采用角位移转换成直线位移的方法,可提高测量精度,增加仪器的实验内容。该实验装置可以用于高等院校近代物理实验和设计性研究性实验。 |
公开日期 | 2014-11-05 |
申请日期 | 2014-06-02 |
状态 | 失效 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/45492] ![]() |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 上海复旦天欣科教仪器有限公司 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈希江,时晨. 一种测量法拉第效应和磁光调制的综合实验装置. CN203931304U. 2014-11-05. |
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