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	Built-in Self-Test Design for Fault Detection of MUXFXs in SRAM-based FPGAs
	Hong, Sheng; Tao, Wenhui; Qi, Yunping; Gao, Cheng; Xiaozhang, Liu; Huang, Jiaoying; Zhang, Dong
	2011
会议名称	International Conference on Quantum, Nano and Micro Technologies
会议日期	2011-01-01
会议地点	Chengdu, PEOPLES R CHINA
关键词	FPGA BIST MUXFX
卷号	39
页码	220-225
收录类别	EI ; CPCI-S
URL标识	查看原文
WOS记录号	WOS:000302674700040
内容类型	会议论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6582594
专题	北京航空航天大学
推荐引用方式 GB/T 7714	Hong, Sheng,Tao, Wenhui,Qi, Yunping,et al. Built-in Self-Test Design for Fault Detection of MUXFXs in SRAM-based FPGAs[C]. 见:International Conference on Quantum, Nano and Micro Technologies. Chengdu, PEOPLES R CHINA. 2011-01-01.

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