电迁移作用下微焊点的微观结构变化及宏观塑性变形 | |
王渊; 苏飞; 张铮 | |
2014 | |
会议名称 | 北京力学会第20届学术年会 |
会议日期 | 2014-01-01 |
会议地点 | 中国北京 |
关键词 | 电迁移 微焊点 IMC 云纹干涉法 |
页码 | 2 |
URL标识 | 查看原文 |
内容类型 | 会议论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6553592 |
专题 | 北京航空航天大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 王渊,苏飞,张铮. 电迁移作用下微焊点的微观结构变化及宏观塑性变形[C]. 见:北京力学会第20届学术年会. 中国北京. 2014-01-01. |
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