非破坏质子激发X射线分析法测定固体材料成分

	非破坏质子激发X射线分析法测定固体材料成分
	李民乾 ; 陈志祥
刊名	上海有色金属
	1980-12-31
期号	S1
中文摘要	<正> 一、引言质子激发X射线分析(PIXE)技术发展至今;极大多数的定量分析工作限于薄样品的分析。为了测定某些特殊规格的材料以及珍贵的样品成分;非破坏直接测定厚靶样品就显得十分重要;因此发展了厚靶定量分析技术。
收录类别	CNKI
语种	中文
公开日期	2013-01-23
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/11370]
专题	上海应用物理研究所_中科院上海原子核所2003年前
推荐引用方式 GB/T 7714	李民乾,陈志祥. 非破坏质子激发X射线分析法测定固体材料成分[J]. 上海有色金属,1980(S1).
APA	李民乾,&陈志祥.(1980).非破坏质子激发X射线分析法测定固体材料成分.上海有色金属(S1).
MLA	李民乾,et al."非破坏质子激发X射线分析法测定固体材料成分".上海有色金属 .S1(1980).