| 双氦离子化气相色谱仪分析四氟化硅气体中微量杂质 | |
| 陈学航; 张建刚; 高文龙; 陈烨; 肖超 | |
| 2017 | |
| 卷号 | 36期号:6页码:1985-1990 |
| 关键词 | 四氟化硅 氟代烷 C2~C3碳氢化合物 双通道氦离子化气相色谱(PDHID) |
| URL标识 | 查看原文 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6248345 |
| 专题 | 贵州大学 |
| 作者单位 | 1.[1]贵州省产品质量监督检验院,贵阳550016 2.[2]贵州大学化学与化工学院,贵阳550025 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈学航,张建刚,高文龙,等. 双氦离子化气相色谱仪分析四氟化硅气体中微量杂质[J],2017,36(6):1985-1990. |
| APA | 陈学航,张建刚,高文龙,陈烨,&肖超.(2017).双氦离子化气相色谱仪分析四氟化硅气体中微量杂质.,36(6),1985-1990. |
| MLA | 陈学航,et al."双氦离子化气相色谱仪分析四氟化硅气体中微量杂质".36.6(2017):1985-1990. |
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