| 基于Mg2Si薄膜的异质结研究现状 | |
| 念刘飞; 余宏; 周筑文; 徐林; 谢泉 | |
| 2016 | |
| 卷号 | 0期号:17页码:87-87 |
| 关键词 | 异质结 Mg2Si 半导体材料 光学特性 言在 玻璃基片 结构材料 热蒸发法 电子结构 电池材料 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6216994 |
| 专题 | 贵州大学 |
| 作者单位 | 1.[1]贵州师范学院物理与电子科学学院 2.[2]贵州师范学院贵州省纳米材料模拟与计算重点实验室 3.[3]贵州大学大数据与信息工程学院 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 念刘飞,余宏,周筑文,等. 基于Mg2Si薄膜的异质结研究现状[J],2016,0(17):87-87. |
| APA | 念刘飞,余宏,周筑文,徐林,&谢泉.(2016).基于Mg2Si薄膜的异质结研究现状.,0(17),87-87. |
| MLA | 念刘飞,et al."基于Mg2Si薄膜的异质结研究现状".0.17(2016):87-87. |
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