氨化Si基Ga2O3/Co薄膜制备GaN纳米线 | |
秦丽霞[1]; 薛成山[1]; 庄惠照[1]; 陈金华[1]; 李红[1]; 杨兆柱[1] | |
2008 | |
卷号 | 39期号:5页码:851-852 |
关键词 | 磁控溅射 GaN纳米线 Co |
URL标识 | 查看原文 |
内容类型 | 期刊论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6108444 |
专题 | 山东师范大学 |
作者单位 | [1]山东师范大学半导体研究所,山东济南250014 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 秦丽霞[1],薛成山[1],庄惠照[1],等. 氨化Si基Ga2O3/Co薄膜制备GaN纳米线[J],2008,39(5):851-852. |
APA | 秦丽霞[1],薛成山[1],庄惠照[1],陈金华[1],李红[1],&杨兆柱[1].(2008).氨化Si基Ga2O3/Co薄膜制备GaN纳米线.,39(5),851-852. |
MLA | 秦丽霞[1],et al."氨化Si基Ga2O3/Co薄膜制备GaN纳米线".39.5(2008):851-852. |
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