薄盒中液晶分子预倾角的测试方法

	薄盒中液晶分子预倾角的测试方法
	邵喜斌 ; 林景波 ; 黄锡珉
刊名	液晶与显示
	2000-06-30
期号	02 页码:79-84
关键词	预倾角晶体旋转法光学位相补偿
公开日期	2013-03-11
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/30780]
专题	长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式 GB/T 7714	邵喜斌,林景波,黄锡珉. 薄盒中液晶分子预倾角的测试方法[J]. 液晶与显示,2000(02):79-84.
APA	邵喜斌,林景波,&黄锡珉.(2000).薄盒中液晶分子预倾角的测试方法.液晶与显示(02),79-84.
MLA	邵喜斌,et al."薄盒中液晶分子预倾角的测试方法".液晶与显示 .02(2000):79-84.