基于减函数的多层贝叶斯离散型软件可靠性验证测试方案 | |
刘广; 黄百乔; 刘畅 | |
刊名 | 计算机应用研究 |
2017 | |
卷号 | 34页码:761-764 |
关键词 | 软件可靠性 验证测试 减函数 贝叶斯 离散型 |
ISSN号 | 1001-3695 |
DOI | 10.3969/j.issn.1001-3695.2017.03.028 |
URL标识 | 查看原文 |
内容类型 | 期刊论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/5941355 |
专题 | 北京航空航天大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘广,黄百乔,刘畅. 基于减函数的多层贝叶斯离散型软件可靠性验证测试方案[J]. 计算机应用研究,2017,34:761-764. |
APA | 刘广,黄百乔,&刘畅.(2017).基于减函数的多层贝叶斯离散型软件可靠性验证测试方案.计算机应用研究,34,761-764. |
MLA | 刘广,et al."基于减函数的多层贝叶斯离散型软件可靠性验证测试方案".计算机应用研究 34(2017):761-764. |
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