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	Electronics of Time-of-Flight Measurement for Back-n at CSNS
	Yu, T.; Cao, P.*; Ji, X. Y.; Xie, L. K.; Huang, X. R.; An, Q.; Bai, H. Y.; Bao, J.; Chen, Y. H.; Cheng, P. J.
刊名	IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE
	2019
卷号	66期号:7页码:1095-1099
关键词	Nuclear electronics time stamp time-of-flight (TOF) measurement
ISSN号	0018-9499
DOI	10.1109/TNS.2019.2900480
会议名称	21st IEEE-Nuclear-and-Plasma-Sciences-Society (NPSS) Real Time (RT) Conference
URL标识	查看原文
会议地点	Williamsburg, VA
会议日期	JUN 09-15, 2018
WOS记录号	WOS:000476781000020
内容类型	期刊论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/5675285
专题	南华大学
作者单位	1.[An, Q. 2.Feng, C. Q. 3.Liu, S. B. 4.Yu, T. 5.Huang, X. R. 6.Yu, L. 7.Cao, P.] Univ Sci & Technol China, Dept Modern Phys, Hefei 230026, Peoples R China.
推荐引用方式 GB/T 7714	Yu, T.,Cao, P.*,Ji, X. Y.,et al. Electronics of Time-of-Flight Measurement for Back-n at CSNS[J]. IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE,2019,66(7):1095-1099.
APA	Yu, T..,Cao, P.*.,Ji, X. Y..,Xie, L. K..,Huang, X. R..,...&Zhu, K. J..(2019).Electronics of Time-of-Flight Measurement for Back-n at CSNS.IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE,66(7),1095-1099.
MLA	Yu, T.,et al."Electronics of Time-of-Flight Measurement for Back-n at CSNS".IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE 66.7(2019):1095-1099.

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