| 基于双波长OTDR技术的长周期光纤光栅多点双参数检测装置 | |
| 王雁茹; 赵春柳; 时菲菲 | |
| 2015-12-09 | |
| 著作权人 | 中国计量学院 |
| 专利号 | CN204854795U |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 实用新型 |
| 其他题名 | 基于双波长OTDR技术的长周期光纤光栅多点双参数检测装置 |
| 英文摘要 | 本实用新型涉及一种基于双波长OTDR技术的长周期光纤光栅多点双参数检测装置，包括：PC机、光脉冲调制器、不同波长的激光二极管、2×1波分复用器、3端口环形器、长距离传输光纤、多根长周期光纤光栅、1×2波分复用器、两个光电探测器、数据采集卡。长周期光纤光栅对于不同工作波长的光的透射率不同，形成不同的反射谱，长周期光纤光栅周围的环境发生变化时，对于同一个长周期光纤光栅，不同的工作波长，波长的漂移量可表示为多种参数的变量的叠加，通过双波长，可建立双参数的传输矩阵，实现长周期光纤光栅的环境参数。本实用新型提出了一种基于双波长OTDR技术的长周期光纤光栅多点双参数检测装置。 |
| 公开日期 | 2015-12-09 |
| 申请日期 | 2015-06-19 |
| 状态 | 失效 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/42786]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 中国计量学院 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王雁茹,赵春柳,时菲菲. 基于双波长OTDR技术的长周期光纤光栅多点双参数检测装置. CN204854795U. 2015-12-09. |
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