激光辐射测试系统 | |
姜克; 江皇君; 颜伟民; 林亚来 | |
2013-12-25 | |
著作权人 | 厦门出入境检验检疫局检验检疫技术中心 |
专利号 | CN203364964U |
国家 | 中国 |
文献子类 | 实用新型 |
其他题名 | 激光辐射测试系统 |
英文摘要 | 本实用新型公开激光辐射测试系统,由探测支架、光电探测器和功率计组成,探测支架包括水平杆、竖直杆和锁紧块,锁紧块上形成供水平杆和竖直杆穿插的横向孔和纵向孔,锁紧块上对应横向孔和纵向孔分别安装定位旋钮,水平杆穿插在横向孔中借助对应的定位旋钮固定,竖直杆穿插在纵向孔中借助对应的定位旋钮固定,水平杆上还借助另一定位旋钮固定探测夹,光电探测器夹置在探测夹上,光电探测器与功率计电连接。本实用新型由光电探测器将激光信号转换成电信号,然后由功率计显示出来,方便进行激光辐射等级的判断,可以对波长在400-1100nm(硅光谱)范围里的气体激光器、固体激光器、半导体激光器和染料激光器等多种激光输出功率的测量。 |
公开日期 | 2013-12-25 |
申请日期 | 2013-07-26 |
状态 | 失效 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/40508] |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 厦门出入境检验检疫局检验检疫技术中心 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 姜克,江皇君,颜伟民,等. 激光辐射测试系统. CN203364964U. 2013-12-25. |
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