激光辐射测试系统
姜克; 江皇君; 颜伟民; 林亚来
2013-12-25
著作权人厦门出入境检验检疫局检验检疫技术中心
专利号CN203364964U
国家中国
文献子类实用新型
其他题名激光辐射测试系统
英文摘要本实用新型公开激光辐射测试系统,由探测支架、光电探测器和功率计组成,探测支架包括水平杆、竖直杆和锁紧块,锁紧块上形成供水平杆和竖直杆穿插的横向孔和纵向孔,锁紧块上对应横向孔和纵向孔分别安装定位旋钮,水平杆穿插在横向孔中借助对应的定位旋钮固定,竖直杆穿插在纵向孔中借助对应的定位旋钮固定,水平杆上还借助另一定位旋钮固定探测夹,光电探测器夹置在探测夹上,光电探测器与功率计电连接。本实用新型由光电探测器将激光信号转换成电信号,然后由功率计显示出来,方便进行激光辐射等级的判断,可以对波长在400-1100nm(硅光谱)范围里的气体激光器、固体激光器、半导体激光器和染料激光器等多种激光输出功率的测量。
公开日期2013-12-25
申请日期2013-07-26
状态失效
内容类型专利
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/40508]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位厦门出入境检验检疫局检验检疫技术中心
推荐引用方式
GB/T 7714
姜克,江皇君,颜伟民,等. 激光辐射测试系统. CN203364964U. 2013-12-25.
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