| 发光体的测光装置 | |
| 池田研一; 保坂一; 铃木俊克; 井久保学 | |
| 2012-10-17 | |
| 著作权人 | 株式会社光学系统 |
| 专利号 | CN101464186B |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 授权发明 |
| 其他题名 | 发光体的测光装置 |
| 英文摘要 | 本发明的发光体的测光装置具备：输出与接收光的接收强度对应的检测数据(Ii)的n个受光部件；输出接收光的光谱分布数据(P(λ))的分光分析部件；与n个受光部件对应地，分别存储确定受光部件的灵敏度的分光灵敏度数据(PDi(λ))的存储部件；执行运算动作的控制部件。控制部件具有：根据n个检测数据(Ii)、n个分光灵敏度数据(PDi(λ))、光谱分布数据(P(λ))，计算出发光元件的发射功率的光谱分布(EGi(λ))的第一处理；根据光谱分布(EGi(λ))，计算出辐射通量(EGi)的第二处理；根据光谱分布(EGi(λ))、分光可见效率(V(λ))，计算出光通量(Φi)的第三处理。本发明的测光装置对于具有不均匀的配光特性的发光元件，也能够迅速并高精度地测定其光量。 |
| 公开日期 | 2012-10-17 |
| 申请日期 | 2008-03-14 |
| 状态 | 失效 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/34514]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 株式会社光学系统 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 池田研一,保坂一,铃木俊克,等. 发光体的测光装置. CN101464186B. 2012-10-17. |
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