| 大功率SiC MESFET内匹配技术及测试电路研究 | |
| 默江辉[1]; 王丽[2]; 刘博宁[3]; 李亮[4]; 王勇[5]; 陈昊[6]; 冯志红[7]; 何庆国[8]; 蔡树军[9] | |
| 刊名 | 半导体技术
 |
| 2010 | |
| 卷号 | 35期号:7页码:658-660,668 |
| 关键词 | SiC MESFET 内匹配 大功率 |
| ISSN号 | 1003-353X |
| DOI | http://dx.doi.org/10.3969/j.issn.1003-353x.2010.07.011 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/5105333 |
| 专题 | 河北大学 |
| 作者单位 | 1.专用集成电路国家级重点实验室,石家庄,050051 2.国防科技信息研究中心,北京,100028 3.河北大学,工商学院,实验管理科,河北,保定,071002 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 默江辉[1],王丽[2],刘博宁[3],等. 大功率SiC MESFET内匹配技术及测试电路研究[J]. 半导体技术,2010,35(7):658-660,668. |
| APA | 默江辉[1].,王丽[2].,刘博宁[3].,李亮[4].,王勇[5].,...&蔡树军[9].(2010).大功率SiC MESFET内匹配技术及测试电路研究.半导体技术,35(7),658-660,668. |
| MLA | 默江辉[1],et al."大功率SiC MESFET内匹配技术及测试电路研究".半导体技术 35.7(2010):658-660,668. |
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