Raman scattering properties of structural defects in SiC | |
Feng, Xianfeng; Zang, Yuan | |
2016 | |
会议名称 | Proceedings of the 2016 3rd International Conference on Mechatronics and Information Technology (ICMIT) |
会议日期 | 2016-01-01 |
关键词 | SiC defects Raman spectra |
页码 | 829-835 |
URL标识 | 查看原文 |
WOS记录号 | WOS:000389360700151 |
内容类型 | 会议论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/4986241 |
专题 | 西安理工大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Feng, Xianfeng,Zang, Yuan. Raman scattering properties of structural defects in SiC[C]. 见:Proceedings of the 2016 3rd International Conference on Mechatronics and Information Technology (ICMIT). 2016-01-01. |
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