| Electrical Resistivity Model for SSTA of Cu Nanowires | |
| Li, Jianwei; Dai, Li; Yu, Ningmei | |
| 2019 | |
| 会议名称 | 2019 IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON ELECTRON DEVICES AND SOLID-STATE CIRCUITS (EDSSC) |
| 会议日期 | 2019-01-01 |
| 关键词 | Nano wires resistivity model electron scattering process variations statistical |
| URL标识 | 查看原文 |
| WOS记录号 | WOS:000483036000184 |
| 内容类型 | 会议论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/4968240 |
| 专题 | 西安理工大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Li, Jianwei,Dai, Li,Yu, Ningmei. Electrical Resistivity Model for SSTA of Cu Nanowires[C]. 见:2019 IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON ELECTRON DEVICES AND SOLID-STATE CIRCUITS (EDSSC). 2019-01-01. |
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