一种多光程干涉仪 | |
魏儒义 ; 周锦松 ; 张学敏 ; 周泗忠 | |
2011-07-13 | |
专利国别 | 中国 |
专利号 | CN201020644128.9 |
专利类型 | 外观设计 |
权利人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
公开日期 | 2011-07-13 |
申请日期 | 2010-12-06 |
语种 | 中文 |
专利申请号 | CN201020644128.9 |
专利代理 | 商宇科 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/13714] |
专题 | 西安光学精密机械研究所_中国科学院西安光学精密机械研究所(2010年前) |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 魏儒义,周锦松,张学敏,等. 一种多光程干涉仪. CN201020644128.9. 2011-07-13. |
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