一种多光程干涉仪
魏儒义 ; 周锦松 ; 张学敏 ; 周泗忠
2011-07-13
专利国别中国
专利号CN201020644128.9
专利类型外观设计
权利人中国科学院西安光学精密机械研究所
公开日期2011-07-13
申请日期2010-12-06
语种中文
专利申请号CN201020644128.9
专利代理商宇科
内容类型专利
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/13714]  
专题西安光学精密机械研究所_中国科学院西安光学精密机械研究所(2010年前)
推荐引用方式
GB/T 7714
魏儒义,周锦松,张学敏,等. 一种多光程干涉仪. CN201020644128.9. 2011-07-13.
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