| 一种光学系统弥散斑和色偏差测试装置及方法 | |
| 周艳 ; 赵建科 ; 陈永权 ; 张洁 ; 徐亮 | |
| 2011-05-11 | |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | CN200910218694.5 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 学科主题 | 物理 |
| 公开日期 | 2011-05-11 |
| 申请日期 | 2009-10-30 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN200910218694.5 |
| 专利代理 | 商宇科 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/13522]  |
| 专题 | 西安光学精密机械研究所_中国科学院西安光学精密机械研究所(2010年前) |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 周艳,赵建科,陈永权,等. 一种光学系统弥散斑和色偏差测试装置及方法. CN200910218694.5. 2011-05-11. |
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