干涉型超光谱成像仪星上一次像面定标方法 | |
相里斌 ; 计忠瑛 ; 王忠厚 | |
2005-07-06 | |
专利国别 | 中国 |
专利号 | CN200310124761.X |
专利类型 | 发明 |
权利人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
学科主题 | 物理 |
公开日期 | 2005-07-06 |
申请日期 | 2003-12-31 |
语种 | 中文 |
专利申请号 | CN200310124761.X |
专利代理 | 徐平 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/13154] |
专题 | 西安光学精密机械研究所_中国科学院西安光学精密机械研究所(2010年前) |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 相里斌,计忠瑛,王忠厚. 干涉型超光谱成像仪星上一次像面定标方法. CN200310124761.X. 2005-07-06. |
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