干涉型超光谱成像仪星上一次像面定标方法
相里斌 ; 计忠瑛 ; 王忠厚
2005-07-06
专利国别中国
专利号CN200310124761.X
专利类型发明
权利人中国科学院西安光学精密机械研究所
学科主题物理
公开日期2005-07-06
申请日期2003-12-31
语种中文
专利申请号CN200310124761.X
专利代理徐平
内容类型专利
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/13154]  
专题西安光学精密机械研究所_中国科学院西安光学精密机械研究所(2010年前)
推荐引用方式
GB/T 7714
相里斌,计忠瑛,王忠厚. 干涉型超光谱成像仪星上一次像面定标方法. CN200310124761.X. 2005-07-06.
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