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	数字集成电路测试数据的压缩生成方法
	雷绍充; 张国和; 曹磊; 王震; 梁峰; 刘泽叶
	2011-01-05
DOI标识	[db:dc_identifier_doi]
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申请日期	2010-08-18
WOS记录号	[db:dc_identifier_wosid]
内容类型	专利
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/4501689
专题	西安交通大学
推荐引用方式 GB/T 7714	雷绍充,张国和,曹磊,等. 数字集成电路测试数据的压缩生成方法. 2011-01-05.

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