智能绝缘子老化试验系统 | |
孙长海; 李维江; 娄志迅; 卢伟; 陈瑾希; 粘凯昕; 史晓龙; 张强; 王明; 赵伟程 | |
2014 | |
权利人 | 大连理工大学 |
公开日期 | 2015-02-25 |
URL标识 | 查看原文 |
申请日期 | 2014-11-10 |
内容类型 | 专利 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/4425084 |
专题 | 大连理工大学 |
作者单位 | 大连理工大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 孙长海,李维江,娄志迅,等. 智能绝缘子老化试验系统. 2014-01-01. |
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