Convergent-beam electron diffraction study of structure of beta-silicon nitride | |
Wang, QL; Yan, YF; Wang, RH | |
刊名 | PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLIED RESEARCH
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1996 | |
卷号 | 155期号:2 |
ISSN号 | 0031-8965 |
DOI | 10.1002/pssa.2211550202 |
URL标识 | 查看原文 |
收录类别 | SCIE |
语种 | 英语 |
内容类型 | 期刊论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/4195514 |
专题 | 武汉大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Wang, QL,Yan, YF,Wang, RH. Convergent-beam electron diffraction study of structure of beta-silicon nitride[J]. PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLIED RESEARCH,1996,155(2). |
APA | Wang, QL,Yan, YF,&Wang, RH.(1996).Convergent-beam electron diffraction study of structure of beta-silicon nitride.PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLIED RESEARCH,155(2). |
MLA | Wang, QL,et al."Convergent-beam electron diffraction study of structure of beta-silicon nitride".PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLIED RESEARCH 155.2(1996). |
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