电子束轰击下的试样的热效应

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	电子束轰击下的试样的热效应
	刘敏 ; 徐乐荧
刊名	电子显微学报
	1990-06-30
期号	3 页码:155
关键词	电子束轰击:6206 热效应:4230 透射电镜:3101 电子探针分析:2531 运动范围:2493 物理模型:2486 产生率:2250 试样:2130 中半径:1676 热量:1654
中文摘要	<正> 本文针对电子探针和透射电镜的情况,研究了电子束轰击下产生的热效应,提出了物理模型,计算了试样的温升,并用不同的实验进行了验证。在电子探针分析中,电子束轰击产生的热量可认为来源于试样中半径为r_0的半球正中,即产生于电子运动范围内,在这区域不同地方产生的热量不一样。假定在电子束半径R_0内,样品的热产生率一定,为常数a,而在R_0—r_0范围内则线性下降,即单位体积中热产生率函数:
公开日期	2012-04-12
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/29110]
专题	金属研究所_中国科学院金属研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	刘敏,徐乐荧. 电子束轰击下的试样的热效应[J]. 电子显微学报,1990(3):155.
APA	刘敏,&徐乐荧.(1990).电子束轰击下的试样的热效应.电子显微学报(3),155.
MLA	刘敏,et al."电子束轰击下的试样的热效应".电子显微学报 .3(1990):155.