题名低温等离子体键合与新型高速衬底材料制备
作者马小波
学位类别博士
答辩日期2010
授予单位中国科学院研究生院(上海微系统与信息技术研究所)  
导师刘卫丽
关键词低温等离子体键合 绝缘体上的硅(SOI) 绝缘体上锗硅(SGOI) 绝 缘体上的锗(GeOI) 应变硅(strained Si)
学位专业微电子学与固体电子学
中文摘要在摩尔定律的指引下,芯片特征尺寸目前已经进入22 nm 量级,现有体硅材 料和传统工艺都正接近它们的物理极限。利用晶圆低温键合集成技术,可以制备 得到多种硅基半导体薄膜,包括绝缘层上的硅,锗、锗硅、应变硅等高速材料, 并有望在三维器件结构中得到应用,其独特的优势,能突破体硅材料与硅集成电 路限制。
语种中文
公开日期2012-03-06
内容类型学位论文
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/82692]  
专题上海微系统与信息技术研究所_微系统、冶金所学位论文_学位论文
推荐引用方式
GB/T 7714
马小波. 低温等离子体键合与新型高速衬底材料制备[D]. 中国科学院研究生院(上海微系统与信息技术研究所)  . 2010.
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