Precision patterning sub- nanometrology relied up a pico-meter quantum sensing approach | |
Fang, Yan | |
2018 | |
关键词 | Precision patterning metrologies Nanomedicine photoluminescence crystals Real-time height-current-phase measurements Minimizing height-current-phase uncertainty correlations Conducting atomic force microscopy (C-AFM) coupling laser micro-photoluminescence spectroscopy sub-nanometrology |
卷号 | 10825 |
会议录 | QUANTUM AND NONLINEAR OPTICS V |
语种 | 英语 |
URL标识 | 查看原文 |
ISSN号 | 0277-786X |
内容类型 | 会议论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/3609415 |
专题 | 复旦大学上海医学院 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Fang, Yan. Precision patterning sub- nanometrology relied up a pico-meter quantum sensing approach[C]. 见:. |
个性服务 |
查看访问统计 |
相关权益政策 |
暂无数据 |
收藏/分享 |
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。
修改评论