银镀层中银离子的迁移现象(二)

	银镀层中银离子的迁移现象(二)
	嵇永康 ; 胡培荣 ; 卫中领
刊名	电镀与涂饰
	2008
期号	09
关键词	RFMEMS开关移相器下拉电压铝硅合金
ISSN号	1004-227X
中文摘要	文章的第2部分论述了银镀层发生离子迁移的实验方法和检测方法。实验方法有环境实验法和溶液实验法;检测方法包括光学观察,绝缘电阻值测量,感应电特性,SEM观察,组成分析,放射化分析,软X射线观察,AFM观察和激光显微镜观察等。
语种	中文
公开日期	2012-01-06
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/51901]
专题	上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文
推荐引用方式 GB/T 7714	嵇永康,胡培荣,卫中领. 银镀层中银离子的迁移现象(二)[J]. 电镀与涂饰,2008(09).
APA	嵇永康,胡培荣,&卫中领.(2008).银镀层中银离子的迁移现象(二).电镀与涂饰(09).
MLA	嵇永康,et al."银镀层中银离子的迁移现象(二)".电镀与涂饰 .09(2008).