| 一种提高ADC采样精度的电路结构及方法 | |
| 张国和; 顾郁炜; 王金磊; 闵瑞清; 雷绍充 | |
| 2015-11-25 | |
| DOI标识 | [db:dc_identifier_doi] |
| URL标识 | 查看原文 |
| 申请日期 | 2015-09-02 |
| WOS记录号 | [db:dc_identifier_wosid] |
| 内容类型 | 专利 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/3236941 |
| 专题 | 西安交通大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张国和,顾郁炜,王金磊,等. 一种提高ADC采样精度的电路结构及方法. 2015-11-25. |
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