长寿命瞬态电子器件溶解行为的理论模型 | |
李锐; Enming Song; 黄永刚 | |
2018 | |
会议名称 | 2018年全国固体力学学术会议 |
会议日期 | 2018-11-01 |
会议地点 | 中国黑龙江哈尔滨 |
关键词 | 瞬态电子器件 溶解 扩散反应 理论模型 |
页码 | 1 |
会议录 | 2018年全国固体力学学术会议 |
URL标识 | 查看原文 |
WOS记录号 | [db:dc_identifier_wosid] |
内容类型 | 会议论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/3235408 |
专题 | 大连理工大学 |
作者单位 | 1.大连理工大学工程力学系,工业装备结构分析国家重点实验室 2.Center for Bio-Integrated Electronics, Northwestern University 3.Department of Mechanical Engineering, Civil and Environmental Engineering, and Materials Science and Engineering,Northwestern University 4.Departments of Materials Science and Engineering, Biomedical Engineering, Neurological Surgery, Chemistry,Mechanical Engineering, Electrical Engineering and Computer Science, Center for Bio-Integrated Electronics, Simpson Querrey Institute for Nano/biotechnology, Northwestern University |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 李锐,Enming Song,黄永刚. 长寿命瞬态电子器件溶解行为的理论模型[C]. 见:2018年全国固体力学学术会议. 中国黑龙江哈尔滨. 2018-11-01. |
个性服务 |
查看访问统计 |
相关权益政策 |
暂无数据 |
收藏/分享 |
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。
修改评论