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	Performance testing and analysis of electrophoresis process driven by low voltage on the SOI microchip
	Liang Jing[1]; Xu Yi; Hu Xiaoguo; Lu Jiali
会议日期	AUG 23-26, 2009
会议地点	Chongqing, PEOPLES R CHINA
URL标识	查看原文
内容类型	会议论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2983820
专题	重庆大学
推荐引用方式 GB/T 7714	Liang Jing[1],Xu Yi,Hu Xiaoguo,et al. Performance testing and analysis of electrophoresis process driven by low voltage on the SOI microchip[C]. 见:. Chongqing, PEOPLES R CHINA. AUG 23-26, 2009.

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