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	An electron beam linear scanning mode for industrial limited-angle nano-computed tomography
	Wang, Chengxiang[1,2]; Zeng, Li[1,3]; Yu, Wei[4]; Zhang, Lingli[1,3]; Guo, Yumeng[1,3]; Gong, Changcheng[1]
	2018
卷号	89
URL标识	查看原文
内容类型	期刊论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2978356
专题	重庆大学
推荐引用方式 GB/T 7714	Wang, Chengxiang[1,2],Zeng, Li[1,3],Yu, Wei[4],et al. An electron beam linear scanning mode for industrial limited-angle nano-computed tomography[J],2018,89.
APA	Wang, Chengxiang[1,2],Zeng, Li[1,3],Yu, Wei[4],Zhang, Lingli[1,3],Guo, Yumeng[1,3],&Gong, Changcheng[1].(2018).An electron beam linear scanning mode for industrial limited-angle nano-computed tomography.,89.
MLA	Wang, Chengxiang[1,2],et al."An electron beam linear scanning mode for industrial limited-angle nano-computed tomography".89(2018).

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