| 使用太赫兹快速探测器测量硅少数载流子寿命 | |
| 张钊; 陈勰宇; 田震 | |
| 刊名 | 红外与激光工程
 |
| 2019 | |
| 卷号 | 第9期页码:145-150 |
| 关键词 | 太赫兹 光泵 单晶硅 少数载流子寿命 |
| ISSN号 | 1007-2276 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2928908 |
| 专题 | 天津大学 |
| 作者单位 | 天津大学精密仪器与光电子工程学院光电信息技术教育部重点实验室太赫兹波研究中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张钊,陈勰宇,田震. 使用太赫兹快速探测器测量硅少数载流子寿命[J]. 红外与激光工程,2019,第9期:145-150. |
| APA | 张钊,陈勰宇,&田震.(2019).使用太赫兹快速探测器测量硅少数载流子寿命.红外与激光工程,第9期,145-150. |
| MLA | 张钊,et al."使用太赫兹快速探测器测量硅少数载流子寿命".红外与激光工程 第9期(2019):145-150. |
| 个性服务 |
| 查看访问统计 |
| 相关权益政策 |
| 暂无数据 |
| 收藏/分享 |
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。
修改评论