一种氮化铝薄膜的制备方法 | |
李勇滔; 饶志鹏; 万军; 夏洋; 李超波; 刘键; 陈波; 黄成强; 石莎莉 | |
2011-09-26 | |
著作权人 | 中国科学院微电子研究所 |
文献子类 | 发明 |
英文摘要 | 本发明涉及一种用原子层沉积设备制备氮化铝薄膜的方法。所述制备方法,包括如下步骤:将硅衬底放置于原子层沉积设备反应腔中;向原子层沉积设备反应腔中通入含铝物质,含碳物质与硅衬底表面发生化学反应,使得含铝物质中的铝原子吸附在硅衬底表面;向原子层沉积设备反应腔中通入含氮物质,含氮物质与硅衬底表面发生卤代反应,含氮物质中的氮氮原子与硅衬底表面的铝原子形成铝氮键,待反应完全后,硅衬底表面即生成氮化铝薄膜结构。本发明利用ALD设备和常见的前躯体,在常温低压下就能制备出氮化铝薄膜,并且可有效的降低能耗,提高氮化铝薄膜的均一性和降低薄膜粗糙度,而且在制作过程中还能有效的降低Al水解带来的不利影响。 |
公开日期 | 2012-11-20 |
状态 | 公开 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/10129] |
专题 | 微电子研究所_微电子仪器设备研发中心 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 李勇滔,饶志鹏,万军,等. 一种氮化铝薄膜的制备方法. 2011-09-26. |
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