题名3300V SiC MOSFET设计及可靠性研究
作者陈宏
答辩日期2019-05-21
文献子类博士
授予单位中国科学院大学
导师韩郑生 ; 邱宇峰
学位专业电子与信息
内容类型学位论文
源URL[http://ir.ime.ac.cn/handle/172511/19345]  
专题微电子研究所_硅器件与集成研发中心
推荐引用方式
GB/T 7714
陈宏. 3300V SiC MOSFET设计及可靠性研究[D]. 中国科学院大学. 2019.
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