| LabVIEW下的扫频阻抗测试系统稳定性研究 | |
| 孙文星; 林春耀; 杨帆; 欧小波; 周丹; 梁文进 | |
| 刊名 | 自动化仪表
 |
| 2018 | |
| 页码 | 70-73 |
| 关键词 | 绕组变形 随机误差 线性拟合 LabVIEW 系统误差 短路阻抗 |
| ISSN号 | 1000-0380 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2834951 |
| 专题 | 西安交通大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 孙文星,林春耀,杨帆,等. LabVIEW下的扫频阻抗测试系统稳定性研究[J]. 自动化仪表,2018:70-73. |
| APA | 孙文星,林春耀,杨帆,欧小波,周丹,&梁文进.(2018).LabVIEW下的扫频阻抗测试系统稳定性研究.自动化仪表,70-73. |
| MLA | 孙文星,et al."LabVIEW下的扫频阻抗测试系统稳定性研究".自动化仪表 (2018):70-73. |
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