亚100nm多栅MOSFET的三维模拟 | |
夏志良 ; 刘晓彦 ; 刘恩峰 ; 韩汝琦 | |
2002 | |
关键词 | 阈值电压 三维模拟 短沟效应 场效应晶体管 |
英文摘要 | 使用三维模拟软件对具有FINFET的多栅结构(主要是双栅和三栅)进行了模拟.对比了双栅和三栅的I-V特性.发现三栅的特性要优于双栅;减小FIN宽度(即两个侧栅之间的距离),双栅和三栅结构特性之间的差距变小.; 0 |
语种 | 中文 |
内容类型 | 其他 |
源URL | [http://ir.pku.edu.cn/handle/20.500.11897/185802] |
专题 | 信息科学技术学院 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 夏志良,刘晓彦,刘恩峰,等. 亚100nm多栅MOSFET的三维模拟. 2002-01-01. |
个性服务 |
查看访问统计 |
相关权益政策 |
暂无数据 |
收藏/分享 |
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。
修改评论