| 热处理对单壁碳纳米管场发射的影响 | |
| 张浩 ; 张兆祥 ; 侯士敏 ; 张耿民 ; 赵兴钰 ; 刘惟敏 ; 薛增泉 ; 施祖进 ; 顾镇南 | |
| 2002 | |
| 关键词 | 单壁碳纳米管 场发射 场发射显微镜 四极质谱 |
| 英文摘要 | 将单壁碳纳米管组装于W针尖 ,对它进行热处理 ,得到单壁碳纳米管在不同温度去气时的残气质谱图和热处理后的场发射特性曲线。通过对不同温度去气后的I U特性曲线的Fowler Nordheim直线斜率的变化 ,结合残气质谱图的分析 ,研究热处理对单壁碳纳米管场发射特性的影响 ,并对其机理进行了初步讨论; 0; 01; 22-25+38 |
| 语种 | 中文 |
| 出处 | 知网 |
| 出版者 | 真空科学与技术 |
| 内容类型 | 其他 |
| 源URL | [http://hdl.handle.net/20.500.11897/23822]  |
| 专题 | 化学与分子工程学院 信息科学技术学院 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张浩,张兆祥,侯士敏,等. 热处理对单壁碳纳米管场发射的影响. 2002-01-01. |
| 个性服务 |
| 查看访问统计 |
| 相关权益政策 |
| 暂无数据 |
| 收藏/分享 |
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。
修改评论