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	第二讲:成败型情形和指数分布情形的可靠性评定; The Reliability Evaluation in the Case of Success or Failure and the Case of Exponential Distribution
	陈家鼎 ; 房祥忠
	2012
关键词	成功率 置信下(上)限 指数分布 success ratio confidence limit mean time between failures(MTBF) exponential distribution.
英文摘要	对于成败型情形,基于成功次数给出了成功率的优良置信限和置信区间;对于产品寿命服从指数分布的情形,针对不同类型的数据（定数截尾、定时截尾、定总时与定数混合截尾、工型区间删失等）分别给出了可靠性参数（平均无故障时间（MTBF）,可靠度,可靠寿命）的点估计和置信限。; In the case of success or failure, the lower and upper confidence limits of success ratio are given by the data. In the case of exponential distribution, the lower and upper confidence limits of the reliability parameters （e.g. MTBF） are also given by the various data, respectively.; 中文核心期刊要目总览(PKU); 中国科技核心期刊(ISTIC); 中国社会科学引文索引(CSSCI); 0; 4; 659-669; 31
语种	中文
出处	知网 ; 万方 ; CSSCI ; http://d.g.wanfangdata.com.cn/Periodical_sltjygl201204011.aspx
出版者	数理统计与管理
内容类型	其他
源URL	[http://hdl.handle.net/20.500.11897/12499]
专题	数学科学学院
推荐引用方式 GB/T 7714	陈家鼎,房祥忠. 第二讲:成败型情形和指数分布情形的可靠性评定, The Reliability Evaluation in the Case of Success or Failure and the Case of Exponential Distribution. 2012-01-01.

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