X射线透视技术在陶瓷艺术品鉴证质量溯源中的应用研究

	X射线透视技术在陶瓷艺术品鉴证质量溯源中的应用研究
	阙介民; 魏存峰; 陈旭; 江鹏飞; 袁文瓒
刊名	中国陶瓷
	2018
卷号	54 期号:10 页码:73-78
关键词	X射线透视陶瓷艺术品鉴证溯源
ISSN号	1001-9642
其他题名	Application of X-ray Perspecitive Technology in Tracing the Quality of Ceramic Works of Art
文献子类	Article
英文摘要	陶瓷艺术品在成型和烧结过程中受物理化学变化的影响,即使是同一窑炉烧制且同一外形的两件陶瓷艺术品,封闭在胎中的气孔、微裂纹等内部微观结构都各不相同,且这种随机形成的特征不可复制,具有唯一性。X射线透视成像技术可以将陶瓷艺术品这种唯一性结构特征以二维投影的形式显现,并作为单个陶瓷艺术品的身份标识,通过对比这些身份标识即可对陶瓷艺术品进行质量溯源。研究通过采集陶瓷艺术品样本进行X射线透视分析,对比二维透视图像的特征,确定为陶瓷艺术品唯一性身份,并进行二次验证确认。该方法相比X-CT分析技术,可以更为快速的采集无底款、纹饰等空间定位信息的陶瓷艺术品内部结构唯一性特征,且检测条件简单,设备成本较低,具有良好的应用前景。
语种	中文
CSCD记录号	CSCD:6346105
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/286517]
专题	高能物理研究所_加速器中心高能物理研究所_核技术应用研究中心
作者单位	中国科学院高能物理研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	阙介民,魏存峰,陈旭,等. X射线透视技术在陶瓷艺术品鉴证质量溯源中的应用研究[J]. 中国陶瓷,2018,54(10):73-78.
APA	阙介民,魏存峰,陈旭,江鹏飞,&袁文瓒.(2018).X射线透视技术在陶瓷艺术品鉴证质量溯源中的应用研究.中国陶瓷,54(10),73-78.
MLA	阙介民,et al."X射线透视技术在陶瓷艺术品鉴证质量溯源中的应用研究".中国陶瓷 54.10(2018):73-78.