拼接检测系统平面波前稀疏子孔径排列模型的优化

doi:1003-501X(2018)45:5<170638:PJJCXT>2.0.TX;2-X

CORC > 光电技术研究所 > 中国科学院光电技术研究所 > 质量处（质检中心）

	拼接检测系统平面波前稀疏子孔径排列模型的优化
	罗倩 ; 吴时彬 ; 汪利华 ; 杨伟 ; 范斌
刊名	光电工程
	2018
卷号	45 期号:5 页码:32-38
关键词	稀疏子孔径教学建模拼接检测波面重构干涉测量
ISSN号	1003-501X
DOI	1003-501X(2018)45:5<170638:PJJCXT>2.0.TX;2-X
文献子类	J
英文摘要	稀疏子孔径拼接检测是大口径、超大口径光学系统像质检测的主要方法之一,其拼接检测的精度与子孔径排列方式、数目以及大小密切相关。本文通过建立数学模型,推导出子孔径个数k在1到无穷区间取值,子孔径个数k与填充因子M的关系曲线,从而得出在1.5m以下系统检测的最优的七个稀疏子孔径排列布局图,并通过Ф200mm自准干涉检验,验证了这种排列布局的合理性。
语种	中文
CSCD记录号	CSCD:6253499
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.ioe.ac.cn/handle/181551/9179]
专题	光电技术研究所_质量处（质检中心）
作者单位	1.中国科学院光电技术研究所 2.中国科学院大学
推荐引用方式 GB/T 7714	罗倩,吴时彬,汪利华,等. 拼接检测系统平面波前稀疏子孔径排列模型的优化[J]. 光电工程,2018,45(5):32-38.
APA	罗倩,吴时彬,汪利华,杨伟,&范斌.(2018).拼接检测系统平面波前稀疏子孔径排列模型的优化.光电工程,45(5),32-38.
MLA	罗倩,et al."拼接检测系统平面波前稀疏子孔径排列模型的优化".光电工程 45.5(2018):32-38.