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	集成电路片上系统核间连线故障的测试系统和方法
	李娇[1]; 张金艺[2]; 杨晓冬[3]; 蔡万林[4]; 施慧[5]; 张冬[6]; 黄徐辉[7]; 翁寒一[8]; 丁梦玲[9]
	2010
权利人	上海大学
URL标识	查看原文
申请日期	2010-01-21
内容类型	专利
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2313075
专题	上海大学
作者单位	上海大学
推荐引用方式 GB/T 7714	李娇[1],张金艺[2],杨晓冬[3],等. 集成电路片上系统核间连线故障的测试系统和方法. 2010-01-01.

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