结构光投影快速测量装置

	结构光投影快速测量装置
	宋宗玺; 李宝鹏; 雷浩; 淡丽军; 王峰涛; 孙忠涵; 李伟; 成鹏飞; 高伟; 樊学武
	2018-12-21
著作权人	中国科学院西安光学精密机械研究所
专利号	CN201820076413.1
国家	中国
文献子类	实用新型
产权排序	1
其他题名	结构光投影快速测量装置
英文摘要	本实用新型属于光电检测领域，具体涉及一种结构光投影快速测量装置。测量装置包括相机和布置在相机周围的光学投影系统，所述光学投影系统包括N个衍射光栅和与衍射光栅一一对应的N个光源，光源投影到光栅后产生正弦图案的相移条纹图；N个衍射光栅产生的N幅相移条纹图之间具有2π/N的相位差，N个光源分别通过同步电路与相机相连。本实用新型解决了现有的测量设备体积大、质量重且测量速度慢的技术问题。
学科主题	G01b11/25
公开日期	2018-08-17
DOI标识	G01B11
申请日期	2018-01-17
语种	中文
状态	申请中
内容类型	专利
源URL	[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/31033]
专题	其它单位_其它部门
作者单位	中国科学院西安光学精密机械研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	宋宗玺,李宝鹏,雷浩,等. 结构光投影快速测量装置. CN201820076413.1. 2018-12-21.