| 基于数字全息的双包层光纤参数测量 | |
| 闫成[1]; 黄素娟[2]; 曾俊璋[3]; 王廷云[4] | |
| 刊名 | 光电子·激光
 |
| 2016 | |
| 卷号 | 27页码:519-527 |
| 关键词 | 数字全息 折射率测量 几何尺寸 特种光纤 分层算法 |
| ISSN号 | 1005-0086 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2233058 |
| 专题 | 上海大学 |
| 作者单位 | [1] 上海大学, 上海市特种光纤与光接入网省部共建重点实验室, 上海 200072, 中国[2] 上海大学, 上海市特种光纤与光接入网省部共建重点实验室, 上海 200072, 中国[3] 上海大学, 上海市特种光纤与光接入网省部共建重点实验室, 上海 200072, 中国[4] 上海大学, 上海市特种光纤与光接入网省部共建重点实验室, 上海 200072, 中国 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 闫成[1],黄素娟[2],曾俊璋[3],等. 基于数字全息的双包层光纤参数测量[J]. 光电子·激光,2016,27:519-527. |
| APA | 闫成[1],黄素娟[2],曾俊璋[3],&王廷云[4].(2016).基于数字全息的双包层光纤参数测量.光电子·激光,27,519-527. |
| MLA | 闫成[1],et al."基于数字全息的双包层光纤参数测量".光电子·激光 27(2016):519-527. |
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