平面光学元件平面度动态干涉拼接测量 | |
张小强[1]; 武欣[2]; 王伟荣[3]; 于瀛洁[4] | |
刊名 | 计量学报 |
2016 | |
卷号 | 37页码:484-488 |
关键词 | 计量学 拼接测量 平面度 动态干涉仪 平面光学元件 |
ISSN号 | 1000-1158 |
URL标识 | 查看原文 |
内容类型 | 期刊论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2229608 |
专题 | 上海大学 |
作者单位 | [1]上海大学 精密机械工程系,上海,200072[2]上海大学 精密机械工程系,上海,200072[3]上海机床厂有限公司,上海,200093[4]上海大学 精密机械工程系,上海,200072 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 张小强[1],武欣[2],王伟荣[3],等. 平面光学元件平面度动态干涉拼接测量[J]. 计量学报,2016,37:484-488. |
APA | 张小强[1],武欣[2],王伟荣[3],&于瀛洁[4].(2016).平面光学元件平面度动态干涉拼接测量.计量学报,37,484-488. |
MLA | 张小强[1],et al."平面光学元件平面度动态干涉拼接测量".计量学报 37(2016):484-488. |
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