CORC  > 上海大学
平面光学元件平面度动态干涉拼接测量
张小强[1]; 武欣[2]; 王伟荣[3]; 于瀛洁[4]
刊名计量学报
2016
卷号37页码:484-488
关键词计量学 拼接测量 平面度 动态干涉仪 平面光学元件
ISSN号1000-1158
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内容类型期刊论文
URI标识http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2229608
专题上海大学
作者单位[1]上海大学 精密机械工程系,上海,200072[2]上海大学 精密机械工程系,上海,200072[3]上海机床厂有限公司,上海,200093[4]上海大学 精密机械工程系,上海,200072
推荐引用方式
GB/T 7714
张小强[1],武欣[2],王伟荣[3],等. 平面光学元件平面度动态干涉拼接测量[J]. 计量学报,2016,37:484-488.
APA 张小强[1],武欣[2],王伟荣[3],&于瀛洁[4].(2016).平面光学元件平面度动态干涉拼接测量.计量学报,37,484-488.
MLA 张小强[1],et al."平面光学元件平面度动态干涉拼接测量".计量学报 37(2016):484-488.
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