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	基于红外热像仪的红外辐射薄膜透过率的测量方法
	吴思伟[1]; 吴行阳[2]; 杨连乔[3]; 张建华[4]; 殷录桥[5]; 李起鸣[6]; 特洛伊·乔纳森·贝克[7]
	2016
权利人	上海大学 镓特半导体科技（上海）有限公司
URL标识	查看原文
申请日期	2016-10-18
内容类型	专利
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2229234
专题	上海大学
作者单位	1.上海大学 2.镓特半导体科技（上海）有限公司
推荐引用方式 GB/T 7714	吴思伟[1],吴行阳[2],杨连乔[3],等. 基于红外热像仪的红外辐射薄膜透过率的测量方法. 2016-01-01.

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