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	老化实验条件下的IGBT寿命预测模型 (EI收录)
	赖伟[1]; 陈民铀[1]; 冉立[1]; 王学梅[2]; 徐盛友[1]
刊名	《电工技术学报》
	2016
卷号	31页码:173-180
关键词	寿命模型 功率循环 WEIBULL分布 Arrhenius广延指数模型 IGBT
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内容类型	期刊论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2188558
专题	华南理工大学
作者单位	1.[1]输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室,重庆400044 2.[2]华南理工大学电力学院,广州510640
推荐引用方式 GB/T 7714	赖伟[1],陈民铀[1],冉立[1],等. 老化实验条件下的IGBT寿命预测模型 (EI收录)[J]. 《电工技术学报》,2016,31:173-180.
APA	赖伟[1],陈民铀[1],冉立[1],王学梅[2],&徐盛友[1].(2016).老化实验条件下的IGBT寿命预测模型 (EI收录).《电工技术学报》,31,173-180.
MLA	赖伟[1],et al."老化实验条件下的IGBT寿命预测模型 (EI收录)".《电工技术学报》 31(2016):173-180.

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