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	Employing the mixed FBB/RBB in the design of FinFET logic gates (CPCI-S收录)
	Wang, Tian[1]; Cui, Xiaoxin[1]; Liao, Kai[1]; Liao, Nan[1]; Ni, Yewen[1]; Yu, Dunshan[1]; Cui, Xiaole[2]
关键词	Back-Gate Biasing FinFET Series Structure Leakage
URL标识	查看原文
内容类型	会议
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2043261
专题	华南理工大学
推荐引用方式 GB/T 7714	Wang, Tian[1],Cui, Xiaoxin[1],Liao, Kai[1],等.Employing the mixed FBB/RBB in the design of FinFET logic gates (CPCI-S收录).

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