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	OBSERVATION OF SUB-20NM LINE-DEFECTS IN GRAPHENE BY FRICTION FORCE MICROSCOPY (CPCI-S收录)
	Jia, Yuehui[1,2]; Wang, Zidong[2]; Gong, Xin[3]; Peng, Pei[2]; Ren, Liming[2]; Fu, Yunyi[2]; Zhang, Han[1]
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内容类型	会议
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2038489
专题	华南理工大学
推荐引用方式 GB/T 7714	Jia, Yuehui[1,2],Wang, Zidong[2],Gong, Xin[3],等.OBSERVATION OF SUB-20NM LINE-DEFECTS IN GRAPHENE BY FRICTION FORCE MICROSCOPY (CPCI-S收录).

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