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	The reliability of the process of lifetest of the AEOSPACE Photoconductive Infrared Detector
	Hai-Yan Zhang; Fu-Long Zhuang; Yan-Jin Li; Hai-Mei Gong
	2013
会议日期	2013-07-15
学科主题	红外探测材料与器件
内容类型	会议论文
源URL	[http://202.127.1.142/handle/181331/7648]
专题	上海技术物理研究所_上海技物所
推荐引用方式 GB/T 7714	Hai-Yan Zhang,Fu-Long Zhuang,Yan-Jin Li,et al. The reliability of the process of lifetest of the AEOSPACE Photoconductive Infrared Detector[C]. 见:. 2013-07-15.

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