一种光学系统测试用快速定位装置及定位方法
张洁; 焦璐璐; 张欢; 赵怀学; 周艳; 胡丹丹; 薛勋; 郭毅; 刘峰; 段亚轩
2016-03-31
专利号CN201610200692.3
国家中国
文献子类发明
英文摘要本发明属于光学检测领域,公开了一种光学系统测试用快速定位装置及定位方法,通过本发明的定位装置记录下标准光学系统在测试设备上的测试姿态,更换被测光学系统后,在测试设备上复现该姿态,该姿态通过本发明的定位装置进行了一系列转换,基准镜法线方向代表光学系统的测试姿态,自准直光管光轴作为标准姿态的基准,再更换被测光学系统时,只需通过二维调整台将基准镜法线调至与自准直光管光轴平行即可实现姿态复现。本发明结构简便,定位准确性高,适合批量化产品的流水线作业,定位结束后,可直接进行相应指标的测试,免去了传统测试前的调试过程。
公开日期2016-08-10
语种中文
状态审查中-实审
内容类型专利
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/29680]  
专题西安光学精密机械研究所_检测技术研究中心
作者单位中国科学院西安光学精密机械研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
张洁,焦璐璐,张欢,等. 一种光学系统测试用快速定位装置及定位方法. CN201610200692.3. 2016-03-31.
个性服务
查看访问统计
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。


©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by CSpace