ICP-AES分析的线性回归校准曲线
张卓勇 ; 朴哲秀 ; 曾宪津
刊名应用化学
1991
卷号8期号:5页码:10-13
关键词电感耦合等离子体 校准 加权 线性回归
ISSN号1000-0518
通讯作者张卓勇
中文摘要本文对ICP-AES分析中2种线性回归方法的校准曲线作了比较和讨论。对大多数元素而言,用加权法得到的校准曲线的斜率比不加权校准曲线的斜率略大,减小3校准曲线在低浓度部分的弯曲,曲线明显优于不加权校准曲线。将2种方法得到的校准曲线进行比较时,应将剩余标准偏差(或剩余变差平方和)及曲线截距等加以综合考虑。用含零标的标准系列制作校准曲线可使曲线的截距更接近原点,有利于提高在低浓度部分校准分析的准确性。
收录类别CSCD收录国内期刊论文
语种中文
公开日期2011-03-03 ; 2011-06-10
内容类型期刊论文
源URL[http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/38915]  
专题长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
张卓勇,朴哲秀,曾宪津. ICP-AES分析的线性回归校准曲线[J]. 应用化学,1991,8(5):10-13.
APA 张卓勇,朴哲秀,&曾宪津.(1991).ICP-AES分析的线性回归校准曲线.应用化学,8(5),10-13.
MLA 张卓勇,et al."ICP-AES分析的线性回归校准曲线".应用化学 8.5(1991):10-13.
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